NF C96-022-2-2002 半導體裝置.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-08-05
中文標準名稱：半導體裝置.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure.
標準類型：L40
發(fā)布日期：2002/12/1 12:00:00
實施日期：2002/12/5 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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