標(biāo)準(zhǔn)號(hào):IEC 60748-20-1-1994
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體器件 集成電路 第20部分:膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范 第1節(jié):內(nèi)部目檢要求
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Semiconductor devices; integrated circuits; part 20: generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits; section 1: requirements for internal visual examination
標(biāo)準(zhǔn)類型:L55
發(fā)布日期:1999/12/31 12:00:00
實(shí)施日期:1999/12/31 12:00:00
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):L55
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):31.200
適用范圍:The purpose is to check the internal materials, construction and workmanship of film and hybrid integrated circuits. These examinations will normally be used prior to tapping or encapsulation to detect and eliminate the F and HFICs with internal defects
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