IEC/TR 60444-3-1986 用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測(cè)量石英晶體元件參數(shù) 第3部分:利用有并聯(lián)電容Co補(bǔ)償?shù)摩行途W(wǎng)絡(luò)相位技術(shù)測(cè)量頻率達(dá)200MHz的石英晶體元件兩端網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的基本方法
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-08-05
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測(cè)量石英晶體元件參數(shù) 第3部分:利用有并聯(lián)電容Co補(bǔ)償?shù)摩行途W(wǎng)絡(luò)相位技術(shù)測(cè)量頻率達(dá)200MHz的石英晶體元件兩端網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的基本方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a
標(biāo)準(zhǔn)類型：L21
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實(shí)施日期：1999/12/31 12:00:00
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：L21
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31.140
適用范圍：Specifies a method of measurement using an inductance to compensate for the effects of the parallel capacitance at the frequency of the crystal unit with accuracy depending on the type of crystals. Discusses in detail two possible circuits for compensation of the parallel capacitance. This report is based on the
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