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20140913-T-603 納米技術貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像高角環形暗場法已發布

作者：百檢網時間：2021-08-06

標準號：20140913-T-603
中文標準名稱：納米技術貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像高角環形暗場法
英文標準名稱：Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method
標準狀態：已發布
標準類型：國標計劃
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：北京粉體技術協會
國際標準分類號：17.180.01;37.020
歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會
主管部門：中國科學院
起草單位：國家納米科學中心
起草人：齊笑迎
相近標準：英文版計劃;GB/T 34831-2017 ?納米技術貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像高角環形暗場法;20210658-T-49
標準制修訂：制訂

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