標(biāo)準(zhǔn)號：20140542-T-469
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：高純銀化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測定 輝光放電質(zhì)譜法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Method for chemical analysis of high purity silver—Determination of trace impurity elements contents—Glow discharge mass spectrometry
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已發(fā)布
標(biāo)準(zhǔn)類型：國標(biāo)計劃
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：安徽華晶微電子材料科技有限公司
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：77.120.99
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會
起草單位：國標(biāo)（北京）檢驗認(rèn)證有限公司
起草人：張金娥
相近標(biāo)準(zhǔn)：英文版計劃;GB/T 36590-2018 ?高純銀化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測定 輝光放電質(zhì)譜法;YS/T 891-2013
標(biāo)準(zhǔn)制修訂：制訂