標準

中文名稱

IEC 62321-1:2013

簡介和概述

IEC 62321-2:2021 (更新，2021-08-30發(fā)布)

樣品的拆卸、拆解和機械拆分

IEC 62321-3-1:2013

使用 X 射線熒光光譜儀對電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進行篩

EC 62321-3-2:2020

使用C-IC對聚合物和電子產品中的氟、溴、氯進行篩選

IEC 62321-3-3:2021 (新增，2021-09-14首次發(fā)布)

使用Py/TD?GC?MS對聚合物中的多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚、特定鄰苯二甲酸鹽進行篩選

IEC 62321-4:2013+AMD1:2017

使用 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物、金屬和電子材料中的汞

IEC 62321-5:2013

使用 AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛

IEC 62321-6:2015

使用 GC-MS 測定聚合物中多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚

IEC 62321-7-1:2015

比色法測定金屬無色和有色防腐鍍層六價鉻

IEC 62321-7-2:2017

比色法測定聚合物和電子產品中六價鉻

IEC 62321-8:2017

使用GC-MS或Py-TD-GC-MS 檢測聚合物中的鄰苯二甲酸酯

IEC 62321-9:2021 (新增，2021-08-30首次發(fā)布)

使用 GC-MS 測定聚合物中六溴十二烷

IEC 62321-10:2020 ((新增，2020-06-24首次發(fā)布)

使用 GC-MS測定聚合物和電子產品中多環(huán)芳烴