1.范圍

本部分是有關(guān)噴射清理用金屬磨料的抽樣和試驗(yàn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 19816的一個(gè)部分。

金屬磨料的類型和對(duì)每種類型的要求均包含在ISO 11124的各個(gè)部分中。

ISO 11124和GB/T 19816系列是有關(guān)噴射清理用金屬磨料的一套密切相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。有關(guān)這兩個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)的所有信息可參見附錄A。

GB/T 19816的本部分規(guī)定了噴射清理用金屬磨料的維氏硬度的測(cè)定方法。

本部分所述方法不宜用于顆粒尺寸小于0.3mm的磨料測(cè)試。

注:對(duì)0.3mm以下的顆粒(顆粒等級(jí)為S 040/G 050)的精確測(cè)定是非常困難的。

2.規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 19816的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本部分。

GB/T 4340.2-1999 金屬維氏硬度試驗(yàn) 第2部分:硬度計(jì)的檢驗(yàn)(idt ISO 6507-2:1997))

GB/T 19816.1-2005 涂覆涂料前鋼材表面處理 噴射清理用金屬磨料的試驗(yàn)方法 第1部分:抽樣(ISO 11125-1:1993,IDT)

3.設(shè)備

3.1 硬度試驗(yàn)機(jī)

具備高達(dá)10N的測(cè)試力和可將硬度試驗(yàn)壓痕放大至少200倍的光學(xué)裝置。

3.2 硬度比照板

具有與被測(cè)試產(chǎn)品相近的硬度范圍。

3.3 金相樣品固定材料

硬化溫度低于140℃。

注:固定材料的拉伸*限值至少應(yīng)是因施加試驗(yàn)力而在試樣上產(chǎn)生的壓應(yīng)力值的2倍。

示例:公稱直徑0.4mm的顆粒具有大約0.126mm2的面積在施加9.807N試驗(yàn)力時(shí),產(chǎn)生約80N/mm2的壓應(yīng)力固定介質(zhì)的拉伸*限值應(yīng)大于160N/mm2。

注:使用硬化溫度高于140℃的金相固定材料,會(huì)對(duì)測(cè)試樣品的材質(zhì)產(chǎn)生回火作用而影響所測(cè)得的硬度值。

3.4 金相樣品模具

直徑至少25mm。

4.抽樣

按GB/T 19816.1-2005的規(guī)定抽取被測(cè)試產(chǎn)品的代表性樣品。

5.樣品的準(zhǔn)備

磨料顆粒單層鋪在金相樣品模具(3.4)的底部,并嵌入金相樣品固定材料(3.3)中。由此得到的試驗(yàn)樣品可以研磨和拋光。對(duì)樣品進(jìn)行濕研磨,直至顆粒公稱直徑的一半暴露出來。固定的支撐面和測(cè)試表面應(yīng)平行。

注1:每種試驗(yàn)樣品要盡可能提供充足的磨料顆粒,保證在研磨和拋光后,測(cè)試表面至少有一半面積被磨料顆粒覆蓋。

注2:這些為硬度測(cè)試準(zhǔn)備的金相樣品也可用于如國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 11125-5(參見附錄A)所描述的顆粒缺陷和微觀結(jié)構(gòu)的測(cè)定。

6.步驟

取雙份試樣進(jìn)行測(cè)定。

6.1 在GB/T 4340.2-1999規(guī)定的環(huán)境溫度中進(jìn)行所有的硬度測(cè)量。

6.2 測(cè)量樣品硬度以前,應(yīng)先用與待測(cè)試產(chǎn)品相近的硬度比照板(3.2)校準(zhǔn)。

6.3 被測(cè)試磨料顆粒直徑大于0.5mm時(shí),用9.807N即相當(dāng)于HV1的測(cè)試力測(cè)量樣品的硬度。被測(cè)試磨料顆粒直徑為0.3mm～0.5mm時(shí),用4.904N即相當(dāng)于HV0.5的測(cè)試力測(cè)量樣品的硬度。測(cè)試時(shí)間為10s～15s。

6.4 對(duì)位于試驗(yàn)樣品邊緣不足3mm處的顆粒不進(jìn)行測(cè)量,在每個(gè)顆粒中心和邊絳之間長(zhǎng)度的一半處做硬度壓痕。

在固定和拋光后的金相試樣表面下,金屬磨料有時(shí)含有未被發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部收縮缺陷和空穴。這些隱蔽空穴產(chǎn)生不一致的硬度壓痕并給出錯(cuò)誤的硬度讀數(shù)。這些硬度壓痕應(yīng)略去不計(jì)。

注:缺陷的定義在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 11124相應(yīng)的測(cè)試材料部分給出。

6.5 在每個(gè)試驗(yàn)樣品的不同顆粒上做10個(gè)可用的硬度壓痕,略去兩條對(duì)角線長(zhǎng)度之差大于5%的所有壓痕,記錄得到的10個(gè)硬度值。

7.結(jié)果的表述

從所得的10個(gè)硬度值中計(jì)算出與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 11124(參見附錄A)相應(yīng)部分規(guī)定的要求一致的百分率。

注:可以計(jì)算算術(shù)平均值,盡管當(dāng)使用這個(gè)方法評(píng)估與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO114(參見附錄A)相應(yīng)部分的一致性時(shí)不是必需的。

8.硬度值的轉(zhuǎn)換

沒有通用方法能精確地將維氏硬度轉(zhuǎn)換為其他硬度或拉伸強(qiáng)度。所以應(yīng)避免這類轉(zhuǎn)換,除非能通過比較試驗(yàn)得到這些轉(zhuǎn)換的可靠基礎(chǔ)。

硬度值的嚴(yán)格比較僅在等同的測(cè)試力的情況下才有可能。

9.試驗(yàn)報(bào)告

試驗(yàn)報(bào)告至少應(yīng)包括下列內(nèi)容:

a) 按國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 11124(參見附錄A)相應(yīng)部分規(guī)定,標(biāo)識(shí)測(cè)試產(chǎn)品必需的所有細(xì)節(jié);

b) 本部分標(biāo)準(zhǔn)號(hào)(GB/T 19816.3-2005);

c) 測(cè)試結(jié)果

d) 與規(guī)定的測(cè)試方法的差異;

e) 測(cè)試日期;

f) 測(cè)試者。

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