太陽能級多晶硅檢測
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-12-06 來源：互聯(lián)網(wǎng)
?國標（北京）檢驗認證有限公司從事多硅和化合物半導體材料檢測，可一次完成硅片厚度、總厚度變化、平整度、局部平整度、翹曲度、類型、電阻率的測試和分類，并可作圖；可進行硅拋光片和外延片的表面質(zhì)量分析檢測，包括顆粒尺寸及數(shù)量的分類；劃傷、桔皮、凹坑等表面質(zhì)量的檢查；利用x射線熒光光譜方法對硅拋光片和外延片的表面金屬進行非破壞性檢測；紅外氧碳測試儀是用紅外吸收法分別測定硅單晶中的間隙氧和替位碳含量，并可計算外延片的外延層厚度。
中心擁有美國Thermo Fisher公司*新型號的Element GD輝光放電質(zhì)譜儀(GDMS)，適用于金屬中ppb級及其以上含量的雜質(zhì)分析，可以檢測5N、6N高純
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國標（北京）檢驗認證有限公司，是中國權威的第三方金屬檢測機構，實驗室通過ISO 152 0173 3840國家實驗室認可(CNAS)，中國計量認證(CMA)，國際航空材料認證（NADCAP），為客戶提供科學的產(chǎn)品檢測、評價方案，滿足進出口及工程檢測等各種需求。?
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