GB/T 11685-2003 半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法
作者：百檢網 時間：2022-10-18
標準簡介
本標準規定了半導體x射線探測器系統和半導體x射線能譜儀主要特性的測量方法。 本標準適用于半導體x射線探測器系統和半導體x射線能譜儀主要性能的測量。英文名稱：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
標準狀態：現行
替代情況：GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
中標分類：能源、核技術>>核儀器與核探測器>>F80核儀器與核探測器綜合
ICS分類：能源和熱傳導工程>>核能工程>>27.120.01核能綜合
發布部門：國防科學技術工業委.
發布日期：2003-07-07
實施日期：2004-01-01
出版日期：2004-04-09
頁數：26頁
前言
核儀器與核探測器綜合相關標準相關標準
《GB/T 3177-2009》產品幾何技術規范(GPS) 光滑工件的尺寸檢測 GB/T 3177-2009
《GB/T 1958-2017》產品幾何技術規范 (GPS)幾何公差 檢測與驗證 GB/T 1958-2017
《GB/T 4698.7-2011》海綿鈦、鈦及鈦合金化學分析方法 氧量、氮量的測定 GB/T 4698.7-2011
《GB/T 1958-2017》產品幾何技術規范（GPS）形狀與位置公差檢測規定 GB/T 1958-2017
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《GB/T 4698.7-2011》海綿鈦、鈦及鈦合金化學分析方法 氧量、氮量的測定 GB/T 4698.7-2011
《ASTM E10-18》金屬材料布氏硬度標準試驗方法 ASTM E10-18
《ASTM E18-20》金屬材料洛氏硬度標準試驗方法 ASTM E18-20
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