GB/T 13387-1992 電子材料晶片參考面長度測量方法
作者：百檢網(wǎng) 時間：2022-10-19
標準簡介
本標準規(guī)定了電子材料晶片參考面長度的測量方法。本標準適用于測量各種直徑的硅拋光片、研磨片和切割片的參考面長度。也適用于測量砷化鎵、藍寶石和釓鎵石榴石等材料晶片的參考面長度。英文名稱：Test method for measuring flat length on slices of electronic materials
標準狀態(tài)：作廢
替代情況：被GB/T 13387-2009代替
中標分類：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
ICS分類：29.040.30
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期：1992-02-19
實施日期：1992-10-01
作廢日期：2010-06-01
頁數(shù)：平裝16開， 頁數(shù)：7， 字數(shù)：9000
前言
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