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GB/T 14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

作者：百檢網時間：2022-10-20

標準簡介

本標準規(guī)定了半導體集成電路時基電路電參數測試方法的基本原理。
英文名稱：General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
標準狀態(tài)：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>微電路>>L55微電路綜合
ICS分類：電子學>>31.200集成電路、微電子學
發(fā)布部門：國家技術監(jiān)督局
發(fā)布日期：1992-01-02
實施日期：1993-08-01
出版日期：2004-08-13
頁數：平裝16開，頁數：13，字數：22千字

前言

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