標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了中子衍射測(cè)量多晶材料殘余應(yīng)力的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于均勻和非均勻材料以及含不同晶相的塊狀樣品檢測(cè)。本標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)要介紹了中子衍射技術(shù)的原理,測(cè)量不同種類材料時(shí)對(duì)應(yīng)采用的衍射晶面給出了建議,為如何選擇與被測(cè)材料晶粒尺寸和應(yīng)力狀態(tài)有關(guān)的測(cè)量方向和待測(cè)體積提供了指導(dǎo)。本標(biāo)準(zhǔn)描述了準(zhǔn)確定位和校正中子束內(nèi)檢測(cè)部位的過程,目的是在測(cè)量時(shí)能夠準(zhǔn)確定義樣品材料的取樣體積。
英文名稱：Non-destructive testing—Standards test method for determining residual stresses by neutron diffraction
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
中標(biāo)分類：機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：試驗(yàn)>>19.100無損檢測(cè)
發(fā)布部門：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
發(fā)布日期：2011-01-14
實(shí)施日期：2011-10-01
出版日期：2011-10-01
頁數(shù)：36頁

前言

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO/TS21432:2005《無損檢測(cè) 測(cè)量殘余應(yīng)力的中子衍射方法》(英文版)。本標(biāo)準(zhǔn)等同翻譯ISO/TS21432:2005。為便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)作了如下修改:———“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本標(biāo)準(zhǔn)”;———?jiǎng)h除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言;———將國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/TS21432:2005/Cor.1:2008(E)技術(shù)勘誤納入本標(biāo)準(zhǔn);———用GB/T1.1—2000規(guī)定的引導(dǎo)語代替國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中的引導(dǎo)語;———勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)圖1中圖例2和圖例3的錯(cuò)誤,互換了圖例2和圖例3的內(nèi)容;———勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)圖2中對(duì)散射角的表述錯(cuò)誤,將2θa 修改為2θ,相應(yīng)的圖例a 也修改為2θ;———勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)圖8c)中SGV 質(zhì)心的標(biāo)示錯(cuò)誤,將“O”改為“X”;———勘誤了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)附錄A.5.1中的引用錯(cuò)誤,將A.4.4改為A.4.5。本標(biāo)準(zhǔn)附錄A 和附錄B為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC56)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所、上海泰司檢測(cè)科技有限公司、上海誠(chéng)友實(shí)業(yè)有限公司、上海威誠(chéng)邦達(dá)檢測(cè)技術(shù)有限公司、上海材料研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:陳波、孫光愛、黃朝強(qiáng)、熊智明、金宇飛。