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GB/T 4937.18-2018 半導體器件機械和氣候試驗方法第18部分：電離輻照(總劑量)

作者：百檢網時間：2022-10-24

標準簡介

GB/T 4937的本部分對已封裝的半導體集成電路和半導體分立器件進行60?Co γ射線源電離輻射總劑量試驗提供了一種試驗程序。本部分提供了評估低劑量率電離輻射對器件作用的加速退火試驗方法。這種退火試驗對低劑量率輻射或者器件在某些應用情況下表現出時變效應的應用情形是比較重要的。本部分僅適用于穩態輻照，并不適用于脈沖型輻照。本部分主要針對軍事或空間相關的應用。本試驗可能會導致輻照器件的電性能產生嚴重退化，因而被認為是破壞性試驗。
英文名稱：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18:Ionizing radiation(total dose)
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L40半導體分立器件綜合
ICS分類：電子學>>半導體器件>>31.080.01半導體器件綜合
發布部門：國家市場監督管理總局.
發布日期：2018-09-17
實施日期：2019-01-01
出版日期：2018-09-01
頁數：12頁

前言

半導體分立器件綜合相關標準

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