電工電子產品-性能試驗
檢測項目:
低溫試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗A:低溫試驗方法 GB/T 2423.1-2008、IEC 60068-2-1:2007 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
高溫試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗B: 高溫試驗方法 GB/T 2423.2-2008、IEC 60068-2-2:2007 | 只測:溫度≤152 0173 3840℃ 容積≤12.6m3 |
恒定濕熱試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法 GB/T 2423.3-2016、IEC 60068-2-78:2012 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
恒定濕熱試驗 | 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-2012、IEC 60068-2-67:1995 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
交變濕熱試驗 | 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法 GB/T 2423.4-2008、IEC 60068-2-30:2005 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
沖擊試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.5-2019 、IEC 60068-2-27:2008 | 只測:位移≤100mm,加速度≤980m/s2,速度≤2m/s *大負載300kg;臺面尺寸1000*800mm;脈沖持續時間30~1ms;*大加速度15g~500g |
碰撞試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 、IEC 60068-2-27:2008 | 只測:位移≤100mm,加速度≤980m/s2,速度≤2m/s |
振動試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動(正弦) GB/T 2423.10-2008、IEC 60068-2-6:2007 | 只測: 位移≤100mm(p-p),頻率:(5~2500)Hz,加速度≤980m/s2 |
鹽霧試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧 GB/T 2423.17-2008/IEC60068-2-11:1981 | 只測:溫度范圍: RT~85℃ ,鹽霧沉降量1.0~3.0(mL/80cm2/h) |
鹽霧試驗 | 環境試驗第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012/IEC60068-2-52:1996 | 只測:溫度范圍: RT~85℃ ,鹽霧沉降量1.0~3.0(mL/80cm2/h) |
振動試驗 | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數字控制)和導則 GB/T 2423.56-2018、IEC 60068-2-64:2008 | 只測:位移≤100mm,加速度≤980m/s2,速度≤2m/s |
自由跌落試驗 | 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-2018、IEC 60068-2-31::2008 | 只測:自由跌落 方法1、方法2,高度≤1000mm,質量≤50kg |
壽命試驗和加速壽命試驗 | 恒定應力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則(用于威布爾分布) GB/T 2689.1-1981 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
壽命試驗和加速壽命試驗 | 壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法(用于威布爾分布) GB/T 2689.2-1981 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
壽命試驗和加速壽命試驗 | 壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法(用于威布爾分布) GB/T 2689.3-1981 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
壽命試驗和加速壽命試驗 | 壽命試驗和加速壽命試驗的*好線性無偏估計法(用于威布爾分布) GB/T 2689.4-1981 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
溫度變化 | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 GB/T 2423.22-2012、IEC 60068-2-14-2009 | 只測: 試驗方法Na和Nb; 溫度范圍:( -70~152 0173 3840)℃;容積≤1.1m3 |
太陽輻射試驗 | 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則 GB/T 2423.24--2013 | 只測:容積≤0.24m3;工作室溫度:35℃~90℃;黑板溫度:40℃~110℃;黑標準溫度:40℃~120℃; |
高溫/振動(正弦) | 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005IEC 60068-2-51-1983 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃,濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤3.5m3; 位移≤100mm,加速度≤980m/s2,速度≤2m/s |
低溫/振動(正弦) | 環境試驗 第2-53部分:試驗和指南 組合氣候(溫度/濕度)和動態(振動/沖擊)試驗IEC 60068-2-53-2010 IEC 60068-2-53-2010 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃,濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤3.5m3; 位移≤100mm,加速度≤980m/s2,速度≤2m/s |
產品加速試驗方法 | 產品加速試驗方法 GB∕T 34986-2017/IEC 62506:2013 | 只測:溫度范圍:(-70~152 0173 3840)℃, 濕度范圍:(15~98%)RH,容積≤12.6m3 |
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