透射電子顯微鏡(TEM)是一種高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡, 使用TEM可以觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)。
規(guī)格型號(hào)：JEM-2100
測(cè)試內(nèi)容
1. 應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析;
2. 各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè);
3. 粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定;
4. 復(fù)合材料界面特性的研究;
可檢測(cè)范圍
1. 生命物體、非生命物體;有機(jī)、無(wú)機(jī)等都可以。
2. 若是晶體，可測(cè)物相，物相是半定量。
3. 可測(cè)元素(能譜)，測(cè)不出分子。
4.生物材料需前處理。
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