TOF-SIMS分析去哪里做?飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)。此類質譜儀可同時檢測所有給定*性的二次離子，并具有**質量分辨率。

檢測范圍

　　1，可對H-U元素進行定性分析(定量需標樣)，檢測*限可達ppm或更低的濃度。

　　2，良好的深度分辨率(0.1-1nm)，但濺射速率很慢(<1μm/H)。

　　3，*小小面積分析，*小區域可達直徑80nm。

　　4，可分析有機物，能直接輸出有機物分子式;

　　5，可對元素進行面分布分析。

檢測標準

　　1ASTM E1162-2011報告次級離子質譜法(SIMS)中濺射深度截面數據的標準實施規程

　　2ASTM E1438-2011用次級離子質譜法(SIMS)測量深度摻雜分布界面寬度標準指南

為什么選擇百檢網TOF-SIMS?

　　1、百檢網TOF-SIMS中心資質齊全，CMA資質認證的第三方檢測機構。

　　2、數據準確，博士團隊，歐美進口檢測設備，保證了數據的準確性。

　　3、研究所檢測報告支持二維碼查詢真偽。

　　4，全國多家分支機構，支持上門取樣，免費初檢。

　　5，售后服務，相關工程師一對一服務。

　　6，可出具中英文檢測報告，及msds報告編寫服務。

TOF-SIMS流程

　　1、前期咨詢

　　2、郵寄TOF-SIMS樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。