FIB制作TEM樣品
檢測內容樣品制備是TEM分析技術中非常重要的一環,?但由于電子束的穿透力很弱,?因此用于TEM的樣品必須制備成厚度約為0.1μm的超薄切片。要將樣品切割成如此薄的切片,許多情況下需要用到FIB(Focus?Ion?Beam,?聚焦離子束)?進行TEM樣品的制備。
產品名稱 | 檢測項目 | 檢測標準 |
FIB制作TEM樣品 | 金鑒實驗室雙束FIB承接TEM制樣 |
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