按探傷時間分類，鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過程中的探傷，產(chǎn)品檢驗及在役檢驗。原材料超聲波探傷和制造過程中超聲波探傷的目的是及早發(fā)現(xiàn)缺陷，以便及時采取措施避免缺陷發(fā)展擴大造成報廢。產(chǎn)品檢驗的目的是保證產(chǎn)品質(zhì)量。在役檢驗的目的是監(jiān)督運行后可能產(chǎn)生或發(fā)展的缺陷，主要是疲勞裂紋。a.軸類鍛件的超聲波探傷軸類鍛件的鍛造工藝主要是以拔長為主，因而大部分缺陷的取向與軸線平行，此類缺陷的探測以縱波直探頭從徑向探測效果?？紤]到缺陷會有其它的分布及取向，因此軸類鍛件探傷，還應(yīng)輔以直探頭軸向探測和斜探頭周向探測及軸向探測。1）直探頭徑向和軸向探測：如圖6.1所示，直探作徑向探測時將探頭置于軸的外緣，沿外緣作全面掃查，以發(fā)現(xiàn)軸類鍛件中常見的縱向缺陷。直探頭作軸向探測時，探頭置于軸的端頭，并在軸端作全面掃查，以檢出與軸線相垂直的橫向缺陷。但當(dāng)軸的長度太長或軸有多個直徑不等的軸段時，會有聲束掃查不到的死區(qū)，因而此方法有一定的局限性。2）斜探頭周向及軸向探測：鍛件中若在片狀軸向及徑同缺陷或軸上有幾個不同直徑的軸段，用直探頭徑向或軸向探測都難以檢出的，則必須使用斜探頭在軸的外圓作周向及軸向探測。考慮到缺陷的取向，探測時探頭應(yīng)作正、反兩個方向的全面掃查，如圖6.2所示。b.餅類、碗類鍛件的超聲波探傷餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主，缺陷的分布主要平行于端面，所以用直探頭在端面探測是檢出缺陷的方法。對于上些重要的餅類、碗類鍛件，要從兩個端面進行探傷，此外有時還要從側(cè)面進行徑向探傷，如下圖所示。從兩端面探測時，探頭置于鍛件端面進行全面探測，以探出與端面平行的缺陷。從鍛件側(cè)面進行徑向探測時，探頭在鍛件側(cè)面掃查，以發(fā)現(xiàn)某些軸向缺陷。c.筒類鍛件的超聲波探傷筒類鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷的取向復(fù)雜。但由于鑄錠中質(zhì)量*差的中心部分已被沖孔時去除，因而筒類鍛件的質(zhì)量一般較好。其缺陷的主要取向仍與筒體外圓表面平行，所以筒類鍛件的探傷仍以直探頭外圓面探測為主，但對于壁較厚的筒類鍛件，須加用斜探頭探測。1）直探頭探測：如圖6.4所示，用直探頭從筒體外圓面或端面進行探測。外圓探測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺陷。端面探測的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺陷。2）雙晶探頭探測：如圖6.4所示，為了探測筒體近表面缺陷，需要采用雙品探頭從外圓面或端面探測。3）斜探頭探測：對于某些重要的筒形鍛件還要用斜探頭從外圓進行軸向和周向探測，如圖6.5所示。軸向探測為了發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷。周向探測是為了發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向缺陷。