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薄膜電容AEC-Q200認(rèn)證測試項目及要求

作者:百檢網(wǎng) 時間:2022-05-18 來源:互聯(lián)網(wǎng)

AEC-Q200 REV D標(biāo)準(zhǔn)總共有14個表格,除表1列出通用測試的要求外,從表 2——14分別列出不同類型無源器件的測試方案和要求。薄膜電容AEC-Q200認(rèn)證測試依據(jù)Table 4表格進(jìn)行測試。

薄膜電容AEC-Q200認(rèn)證測試項目及要求


1. High Temperature Exposure (Storage) 高溫存儲

測試方法:MIL-STD-202 Method 108;

測試要求:1000小時。在額定工作溫度下(例如,85°C的零件可在85°C下儲存1000小時,同樣適用于100°C和125°C的零件),不通電。試驗結(jié)束后24±4小時進(jìn)行測量。

2. Temperature Cycling 溫度循環(huán)

測試方法:JES D22 Method JA-104;

測試要求:1000次循環(huán)(-55°C至85°C)注:如果部分溫度為100°C或125°C,則1000次循環(huán)將處于該額定溫度。試驗結(jié)束后24±4小時進(jìn)行測量。每個*端溫度下的*大停留時間為30分鐘。1分鐘,*大過渡時間。

3. Moisture Resistance 濕度抵抗

測試方法:MIL-STD-202 Method 106;

測試要求:t=24小時/周期。注:不需要步驟7a和7b,不通電。試驗結(jié)束后24±4小時進(jìn)行測量。

4. Biased Humidity 偏高濕度

測試方法:MIL-STD-202 Method 103;

測試要求:1000小時40°C/93%相對濕度,額定電壓。試驗結(jié)束后24±4小時進(jìn)行測量。

5. Operational Life 工作壽命

測試方法:MIL-STD-202 Method 108;

測試要求:1000小時TA=85°C,注:如果100°C或125°C為1000小時,則條件D(1000小時)。會在那個溫度下。金屬化膜:85℃時為額定電壓的125%。85℃以上為額定電壓的****。試驗結(jié)束后24±4小時進(jìn)行測量。

6. External Visual 外觀

測試方法:MIL-STD-883 Method 2009;

測試要求:檢查產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、標(biāo)記和工藝。不需要進(jìn)行電氣測試。

7. Physical Dimension 尺寸

測試方法:JESD22 Method JB-100;

測試要求:驗證物理尺寸是否符合適用的產(chǎn)品規(guī)范。注:用戶和供應(yīng)商規(guī)范。不需要進(jìn)行電氣測試。

8. Terminal Strength (Leaded) 端子強(qiáng)度(引腳)

測試方法:MIL-STD-202 Method 211;

測試要求:僅測試引線設(shè)備的引線完整性。條件: A (2.27 kg), C (227 g), E (1.45 kg-mm)。

9. Resistance to Solvents 溶劑抵抗

測試方法:MIL-STD-202 Method 215;

測試要求:注:也可使用水性化學(xué)清洗劑-OKEM clean或同等產(chǎn)品。不要使用禁用溶劑。

10. Mechanical Shock 機(jī)械沖擊

測試方法:MIL-STD-202 Method 213;

測試要求:方法213的圖1。條件C

11. Vibration 振動

測試方法:MIL-STD-202 Method 204;

測試要求:5克20分鐘,3個方向各12個周期,使用8“X5”PCB,.031”厚。8”一側(cè)有7個安全點,另一側(cè)有2個安全點。安裝在距任何安全點2”范圍內(nèi)的零件。從10-2000赫茲進(jìn)行測試。

12. Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱

測試方法:MIL-STD-202 Method 210;

測試要求:注:SMD使用程序2;對于含鉛使用程序1,焊料在裝置主體1.5mm范圍內(nèi)。

13. ESD 靜電放電

測試方法:AEC-Q200-002 Or ISO/DIS10605。

14. Solderability 可焊性

測試方法:J-STD-002;

測試要求:適用于含鉛和SMD。不需要進(jìn)行電氣測試。放大50倍。條件:含鉛:235°C時的方法A,第3類。SMD: a)方法B,155°C干熱235°C下4小時

b)215°C時的方法b第3類。c)260°c時的方法D第3類。

15. Electrical Characterization 電氣特性

測試方法:用戶規(guī)格;

測試要求:按批次和樣品尺寸要求進(jìn)行參數(shù)化測試,總結(jié)以顯示室溫下的*小、*大、平均和標(biāo)準(zhǔn)偏差以及*小和*大工作溫度。

16. Flammability 可燃性

測試方法:UL-94;

測試要求:可接受V-0或V-1。不需要進(jìn)行電氣測試。

17. Board Flex 板彎曲

測試方法:AEC-Q200-005;

測試要求:*短保持時間為60秒。

18. Terminal Strength (SMD) 端子強(qiáng)度(SMD)

測試方法:AEC-Q200-006。

薄膜電容AEC-Q200認(rèn)證測試注意事項


1. 每個環(huán)境應(yīng)力測試項目前后都要進(jìn)行電參數(shù)測試,特別要求除外。

2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250,500,1000小時幾個階段。

3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)(25±5 °C )下進(jìn)行,應(yīng)力測試完成后24±4小時內(nèi)進(jìn)行。

4. No.15 電參數(shù)測試將會在宣稱的低溫,室溫,高溫中進(jìn)行測試。

5. 接受條件和要求參數(shù)依據(jù)客戶規(guī)格書進(jìn)行判定,AEC-Q200所有測試只接受零失敗。

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