? ? ? ?JEMARM 20OF球差電鏡是一款原子級(jí)分析型透射電鏡，擁有****的STEM-HAADF像分辨率(78pm)，無(wú)論是20OkV的高加速電壓還是在30kv的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)(e-ABF法)可以更加簡(jiǎn)便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度）圖像。ARM20OF在保證亞納米分辨率0.078nm的同時(shí)，能量分辨率提高到了0.3eV，*大增強(qiáng)了原子級(jí)觀察和原子級(jí)分析能力。
應(yīng)用范圍
形貌分析：通過(guò)形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，同時(shí)還可通過(guò)明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像對(duì)樣品的質(zhì)厚襯度像、衍襯像進(jìn)行進(jìn)—步的表征。
結(jié)構(gòu)分析：觀察研究材料結(jié)構(gòu)并進(jìn)行原子尺度的微分析，如:原子像，選區(qū)電子衍射，會(huì)聚束電子衍射等。
成分分析：可在原子尺度對(duì)樣品進(jìn)行成分分析，可選擇性的對(duì)樣品進(jìn)行能譜點(diǎn)測(cè)、能譜線掃、能譜面分布分析，獲得樣品中的元素在一個(gè)點(diǎn)、—條線、—個(gè)面上的分布情況。
送樣要求
粉末樣品:樣品量≥2mg(不接收強(qiáng)磁性樣品)。
液體樣品:樣品量≥0.5ml(不接收強(qiáng)磁性樣品)。
塊體樣品:樣品尺寸≥3mm,若小于該尺寸請(qǐng)聯(lián)系在線客服具體確認(rèn)。
測(cè)試說(shuō)明
1.粉末和液體樣品要保證樣品中沒(méi)有過(guò)多的有機(jī)物和表面活性劑。
2.樣品上球差電鏡前*好用普通場(chǎng)發(fā)射電鏡篩選下。
3.原子相測(cè)試主要包括HAADF暗場(chǎng)像拍攝，特別是原子相拍攝。另外可以附加一張非原子級(jí)的EDSmapping，如果需要該項(xiàng)，需要提前備注，并不默認(rèn)提供。
中級(jí)會(huì)員
北京中科百測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司
民營(yíng)企業(yè)10-50人獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室個(gè)服務(wù)行業(yè)
材料地礦與珠寶玉石化工環(huán)境建筑與工程能源農(nóng)業(yè)食品相關(guān)檢測(cè)
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三維形貌輪廓儀
掃描電鏡測(cè)試
禾川化學(xué)案例解析| 硅片清洗劑研發(fā)
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