作者:百檢網(wǎng) 時間:2021-11-02 來源:互聯(lián)網(wǎng)
1、低氣壓試驗的測試目的
低氣壓試驗主要考核元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的環(huán)境適應(yīng)性能力。
2、低氣壓試驗測試時間
常規(guī)通電狀態(tài)下至少試驗1~2小時;
3、低氣壓試驗需要確定什么測試參數(shù)?
需要確定低氣壓的海拔高度值,測試時長,是否上電,如54Kpa,工作狀態(tài)下,運(yùn)行2小時。
4、對于低氣壓試驗,產(chǎn)品怎么出線進(jìn)行通電試驗?
低氣壓試驗箱的一側(cè)一般都有一個法蘭盤,法蘭盤上有接線端子,可以供電交流220V,交流380V,直流12v,48v等電源線接線,產(chǎn)品的信號線通過法蘭中間的圓孔進(jìn)行出線;
5、低氣壓試驗依據(jù)什么標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合 GB/T 2423.59-2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T 2423.102-2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 M:低氣壓 GB/T2423.21-2008,IEC 60068-2-13:1983
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.25-2008,IEC 68-2-40:1976
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.26-2008,IEC 68-2-41:1976
軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第 2 部分:低氣壓(高度)試驗 GJB150.2A-2009
軍用裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第 24 部分:溫度-濕度-振動-高度試驗 GJB 150.24A-2009
繼電保護(hù)和安全自動裝置基本試驗方法 GB/T 7261-2016 10.6
1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實(shí)驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準(zhǔn);
4、免費(fèi)初檢,初檢不收取檢測費(fèi)用;
5、自助下單 快遞免費(fèi)上門取樣;
6、周期短,費(fèi)用低,服務(wù)周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);
8、檢測報告權(quán)威有效、中國通用;
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