GB/T 19403.1-2003 半導體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路）
作者：百檢網(wǎng) 時間：2022-10-18
標準簡介
本部分為GB/T19403的一部分，等同采用國際電工委員會標準IEC60748-11-1：1992《半導體器件集成電路第11部分：第1節(jié)：半導體集成電路內(nèi)部目檢》。英文名稱：Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
中標分類：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導體集成電路
ICS分類：電子學>>31.200集成電路、微電子學
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
發(fā)布日期：2003-11-24
實施日期：2004-08-01
出版日期：2004-08-01
頁數(shù)：16開， 頁數(shù)：22， 字數(shù)：45千字
前言
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