作者:百檢網(wǎng) 時間:2022-10-22
標準簡介
本標準規(guī)定了用陰*熒光顯微鏡法測試氮化鎵單晶位錯密度的方法。 本標準適用于位錯密度在1×103 個/cm2~5×108 個/cm2 之間的氮化鎵單晶中位錯密度的測試。前言
本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)與全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分會(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。本標準起草單位:中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所、蘇州納維科技有限公司。本標準主要起草人:曾雄輝、張燚、董曉鳴、牛牧童、劉爭暉、邱永鑫、王建峰、徐科。1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質(zhì);
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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